Путь:OKDatasheet > Полупроводниковые Datasheet > TI Datasheet > SNJ54BCT8240AFK
SNJ54BCT8240AFK спецификации: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Аналогичные SNJ54BCT8240AFK
- SNJ5400J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400WA
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5401J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5401W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
SNJ54BCT8240AFK Datasheet и спецификация
Производитель : TI
Упаковка : FK
Pins : 28
Темп. диапазон : Минимум -55 °C | Макс 125 °C
Размер : 322 KB
Заявка : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
SNJ54BCT8240AFK Скачать PDF
