Путь:OKDatasheet > Полупроводниковые Datasheet > TI Datasheet > SNJ54ABT18245AWD
SNJ54ABT18245AWD спецификации: SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS
Аналогичные SNJ54ABT18245AWD
- SNJ5400J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400WA
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5401J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5401W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
SNJ54ABT18245AWD Datasheet и спецификация
Производитель : TI
Упаковка : WD
Pins : 56
Темп. диапазон : Минимум -55 °C | Макс 125 °C
Размер : 392 KB
Заявка : SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS
SNJ54ABT18245AWD Скачать PDF
