Путь:OKDatasheet > Полупроводниковые Datasheet > TI Datasheet > SN74BCT8244ADW
SN74BCT8244ADW спецификации: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS
Путь:OKDatasheet > Полупроводниковые Datasheet > TI Datasheet > SN74BCT8244ADW
SN74BCT8244ADW спецификации: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS
Производитель : TI
Упаковка : DW
Pins : 24
Темп. диапазон : Минимум 0 °C | Макс 70 °C
Размер : 322 KB
Заявка : IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS